PCB在線功能測試系統的主要制約因素就是其反向驅動器的吸收/施放電流能力過強，從而遮蓋了被測芯片輸入腳出現的故障現象。例如，大多數芯片的輸入腳阻抗都很高（大于1兆歐姆），如果輸入腳內部功能損壞，則該腳阻抗可能降低到大約20歐姆，這將導致驅動該輸入腳的芯片產生扇出問題，從而出現電路故障，因為多數芯片只能驅動輸出10毫安左右的電流。然而，一般的反向驅動測試儀器卻能夠驅動阻抗為20歐姆的輸入腳，這就使本來輸入腳出現故障的芯片也能通過功能測試。QT200能夠驅動8歐姆以上的節點（小于8歐姆視為短路），這是Qtech系列檢修設備系統的主要問題。
一、PCB在線檢修的步驟
一般檢修PCB的流程圖
PCB常見器件種類：
1、門電路/組合邏輯型器件
如:7400,7408等
可使用ICFT,QSM/VI進行測試
2、時序器件/觸發器、計數器
如:7474,7492等
可使用ICFT,QSM/VI進行測試
3、總線器件（三態輸出）
如:74245,74244,74374等
可使用ICFT,QSM/VI進行測試
4、PAL,ROM,RAM
如:2764，14464
可使用ICFT進行測試
5、LSI器件
如:8255,8088,Z80等
可使用ICFT,QSM/VI進行測試
6、用戶專用芯片
使用QSM/VI方式測試
PCB測試失敗原因：
1、芯片功能損壞
2、速度/時序問題
3、芯片管腳狀態（懸空,高阻,時鐘,非法連接）
4、OC門線或狀態
5、扇出問題
ICFT測試結果分類：
1、測試通過
2、測試失敗
3、器件沒有完全測試
4、器件比較相同
5、器件比較不相同
二、PCB在線功能測試出現不同測試結果的處理方法
1、出現“測試失敗”結果時
1) 查看測試夾具是否接錯了芯片，是否與被測芯片聯接良好。從管腳狀態窗口查看是否有開路管腳（顯示HIZ），是否測出電源管腳。糾正這些問題后重新測試。
2) 如果結果仍然是“測試失敗”，將鼠標移到管腳狀態窗口后單擊左鍵，使顯示管腳阻抗。比較出現錯誤的管腳阻抗與另外相同功能的管腳阻抗。如果是芯片的某個輸出腳出現測試錯誤，則查看該腳與其它輸出腳的阻抗是否一致（注意此時的阻抗是芯片帶電時測量的對地阻抗）。
3) 如果比較的阻抗大致相等，則調低測試時基或門限值，然后再測一遍。若這次測試通過，則說明該芯片出現的測試錯誤是時序方面的問題。這可能是輸出腳接了電容器件，由于電容的放電過程，使輸出腳狀態翻轉變慢。如果調整時基或門限值后的測試能夠通過的話，可有90%的把握確定該器件沒有損壞，此時即可轉到測試下一個芯片。
如果調整時基或門限值后測試仍未通過，則檢查是否需要設置隔離。若不需要隔離，則直接進入第5步。
4) 如果從夾具狀態中看出測試失敗的原因是由于輸出腳不能達到正常的邏輯電平，則調低測試門限值后再測。如果此時以較松的門限值測試能夠通過的話，則說明該芯片所接的負載過重，或者是芯片本身的輸出驅動能力變差，不能吸收或施放正常負載所需的電流。出現這種情況時，用戶必須特別注意，處理辦法是在被測板加電和不加電兩種狀態下，重新測試該輸出腳對地的阻抗，也可使用QSM/VI方式在被測板加電和不加電兩種狀態下，測試該芯片各輸出腳的VI曲線。
5) 比較測出的各輸出腳對地阻抗，如果不加電測量的阻抗大致相等，而加電時測量出現測試錯誤的輸出腳阻抗高于其它輸出腳的阻抗，則說明該芯片功能損壞（高阻抗狀態不能吸收或施放所需電流），應更換該芯片。
6) 比較各輸出腳的VI曲線，如果某個輸出腳的阻抗明顯低于其它輸出腳的阻抗，則說明問題在該腳所接扇出負載上。檢測與該腳相接的所有芯片輸入腳的阻抗，找出其中真正的短路點。
為了進一步查出問題的根源，可用扁口鉗鉗斷被測芯片上出現測試錯誤的輸出腳，再重新測試。如果這時測試通過，就表明確實是芯片所接負載的問題。
2、出現“器件沒有完全測試”結果時
1) 當被測芯片的輸出腳在測試過程中不發生翻轉（即在測試窗口中保持固定高或低電位）時，系統將提示“器件沒有完全測試”（出現該提示時屏幕上的波形窗口并不標注任何測試錯誤）。例如一個7400與非門的某個輸入腳短接到地，則對應的輸出腳將始終為高電平，測試該芯片時將出現上述提示。
2) 如果用戶有被測板的電路原理圖，就能很容易地確定該芯片的管腳連接狀態是否正常。
3) 如果用戶已學習過好板，那么所學芯片的正常連接狀態也將記錄下來。測試壞板時系統自動與好板學習結果相比較，如果比較結果不同，則說明壞板出現非法連接；如果比較結果相同，則可不考慮“器件沒有完全測試”的提示，轉到測試下一個芯片。
4) 如果被測芯片是OC器件，并在電路上設計為“線或”狀態 ，那么該芯片的輸出可能會受到與其存PCB在線或關系的其它芯片的影響。例如，某個芯片的輸入邏輯使其輸出固定為低電平，則被測芯片的輸出也將固定為低電平，這時測試該芯片系統也將提示“器件沒有完全測試”。對此類器件用戶應特別注意，建議使用QSM/VI方式，通過比較測試芯片上所有相同功能管腳的VI曲線，來判斷故障點。
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